お問い合わせ

技術情報

HOME>技術情報一覧>シーズ>東京都立大学>検査装置および検査方法

東京都立大学東京都立大学

検査装置および検査方法

研究者
システムデザイン学部准教授三浦 幸也
キーワード
VLSI、設計、検査（テスト）、故障、CAD、高信頼化、ディジタル、アナログ、ディペンダブル

劣化検知装置
　オンチップおよびオフチップの両方に対応可能な劣化検知回路、
　オンラインで劣化の検知が可能な劣化検知回路、
　さらに、劣化の検知範囲を変更可能な劣化検知回路を提供する