半導体集積回路において、トランジスタと配線の加工のばらつきにより不良品が発生することがあり、不良品を発見するために遅延測定回路を設ける技術がある。本技術では、半導体集積回路の信号の伝播時間の遅延を高精度に測定することができ、不良製品を適切に見つけることができる。